| Дифракционный анализ Виктор Михайлович Анищик В данный момент этот товар отсутствует в продаже. Возможно, у нас найдется аналогичный или похожий товар здесь. Рассмотрены основные положения физики рентгеновских лучей, рентгенотехники, теории дифракции рентгеновских лучей и электронов. Изложены основные методы структурного анализа и его практического применения для исследования кристаллов.
Для студентов, специализирующихся в области физики и химии конденсированного состояния, металлофизики и радиационного материаловедения. Может быть полезна аспирантам, инженерам, работающим в области физических исследований и контроля свойств металлов и сплавов. |
Детальная информация
Издательство
Вышэйшая школа, Беларусь, все товары
Издательство "Вышэйшая школа" – одно из крупнейших в республике Беларусь.
Тематическое разнообразие продукции издательства удовлетворяет потребности широкой учащейся аудитории и специалистов: учебные, справочные, научные, научно-популярные и производственно-практические издания выпускаются по таким отраслям знаний, как экономика, политология, социология, правоведение, медицина, биология, экология, химия, математика, физика, техника, языкознание, литературоведение и др.
Ежегодный... |
Авторы
Разделы товара
%text%